1．CMOS数字集成电路的特性及作用

    CMOS数字集成电路由绝缘栅场效应管(MOS)构成，它是在TTL电路问世之后，所开发出的第二种应用广泛的数字集成器件。从发展趋势来看，由于制造工艺的改进，CMOS电路的性能有可能超越TTL而成为占主导地位的器件。

    CMOS数字集成电路的工作速度与TTL电路相当，而它的集成度、功耗和抗干扰能力则远优于TTL，更便于向大规模集成电路发展。几乎所有的超大规模存储器件和可编程逻辑(PLD)器件都采用CMOS工艺制造，且费用较低。

    早期生产的标准型CMOS门电路为4000系列，随后发展又4000B系列。74系列的高速CMOS电路分为三大类；HC为CMOS工作电平；HCT为TTL工作电平(它可与74LS系列互换使用)；HCU适用于无缓冲级的CMOS电路。平时用得最多的是74HC、74HCT这两类。当前，能与TTL兼容的高速CMOS集成器件有74HCT和74BCT(国标为CC74HCT、CC74BCT)两大系列。

    2．CMOS数字集成电路的检测方法

    现以CC4069型反向器(非门)为例介绍CMOS数字集成电路好坏的判别方法。

    检测时，将万用表置直流电压10V挡，黑表笔接7脚，红表笔分别依次接到待测门的输出引脚(如2、4、6、8、10或12)上，见图151。若用A端依次相应地去接触被测门的输入引脚(如1、3、5、9、11或13)，则万用表的读数应为0V。若用C端依次相应地去接触被测门的输入引脚(如1、3、5、9、11或13)，则万用表的读数应为4V左右。满足这两个条件，则说明被测CMOS集成电路的质量性能良好，否则说明其已损坏。

图151  CMOS数字集成电路好坏判别

    3．检测注意事项

    (1)这种检测方法对于其他类型的逻辑门(如或门、与门等)也适用。

    (2)在检测其他类型的逻辑门时，要根据不同逻辑门的特性进行一些适当的改变。如检测或门时，当用A端分别接触或门的两个输入引脚时，在输出引脚上，两次测得的应都是高电平的电压值。只有当C端同时接触或门的两个输入引脚时，才在其输出端引脚上输出低电平的电压值。